摘要
本文以微波着陆地面专用测试设备中的自检模块的技术要求和高低温性能指标为依据,论述了自检模块中的晶振电路部分在高低温条件下所受到的影响及处理方法。
According to the requirements on self-checking module and index of high-temperature & low-temperature performance in devices dedicated to microwave landing systems, this paper discusses malfunction analysis and related solutions of self-checking module in quartz crystal oscillator part.
出处
《导航》
2007年第3期66-68,共3页
关键词
自检模块
高低温性能
晶振电路
起振条件
Self-Checking Module
High-Temperature & Low-Temperature Performance
Oscillating condition