摘要
2007年9月5日，借助罗德与施瓦茨公司基于PXf的生产测试平台R＆SCompactTSVP的新选件，即使在需要进行大量数据运算的领域，快速数字功能性测试也可以实现。全新的高速数字测试模块R＆S TS—PHDT支持高达40MHz的数据速率以及15GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值。记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，因此节约了大量的测试时间。
出处
《电信技术》
2007年第9期27-27,共1页
Telecommunications Technology
