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用正电子湮没技术研究ZrO_2-Y_2O_3系统的电导率与Y_2O_3含量的关系

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摘要 本文应用正电子湮没寿命谱从有效空位浓度的角度分析了ZrO_2-Y_2O_3系统材料中的电导率(σ)与Y_2O_3含量的关系,揭示了σ随Y_2O_3含量变化规律的本质,进一步论证了稳定ZrO_2的空位导电机理,证实材料中的有效空位浓度是决定σ的关键因素。
作者 朱惠英 周潍
出处 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 北大核心 1990年第4期4-9,共6页 Bulletin of the Chinese Ceramic Society
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参考文献1

  • 1[芬兰]豪托贾维(P·Hautojarvi) 主编,何元金,郁伟中.正电子湮没技术[M]科学出版社,1983.

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