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X射线荧光光谱熔融片法测定超导材料原子数配比 被引量:3

Determination of Atomic Ratio in Bi_K_Ba Superconductor by XRF with Fusion Disk Technique for Sample Preparation
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摘要 报道了用X射线荧光光谱测定铋钾钡系超导材料原子配比的方法。测量样片用熔融法制备,测定各组分的质量分数后计算原子配比并推出材料的分子式。 A method for the determination of atomic ratio in Bi_K_Ba superconductor by XRF with fusion disk technique for sample preparation was developed. Atomic ratio was calculated after the mass fraction for each component was determined. The molecular formula of the superconductor was then deduced.
机构地区 南京大学
出处 《岩矿测试》 CAS CSCD 北大核心 1997年第2期155-158,共4页 Rock and Mineral Analysis
基金 国家自然科学基金
关键词 超导材料 原子数配比 熔融片 铋钾钡系 荧光光谱 X_ray fluorescence spectrometry(XRF), superconductor, atomic ratio, fusion disk technique
  • 相关文献

参考文献4

二级参考文献1

  • 1[美]施密特(J·Smit) 编,中国科学院物理研究所磁学室.材料的磁性[M]科学出版社,1978.

共引文献3

同被引文献828

引证文献3

二级引证文献16

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