摘要
新兴测量需求解决方案的领导者吉时利仪器公司2007年9月17日发布了其2600系列SourceMeter数字源表的两款新产品2635和2636,自此形成业界技术最先进,效费比最高的半导体参数分析与测试解决方案。2635和2636采用最新特殊参数分析技术,实现了高达1fa(10-15安)的测量分辨率,从而满足了很多半导体、光电和纳米器件的测试需求。
出处
《仪器仪表标准化与计量》
2007年第5期I0005-I0005,共1页
Instrument Standardization & Metrology