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浪涌试验损坏电子镇流器/电子变压器三极管问题探讨
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摘要
浪涌试验是模拟雷击或开关操作的一项EMC抗扰度试验。浪涌冲击会损坏灯具或家电产品中半导体功率器件,在电源整流回路中加接压敏电阻可起到一定的保护电路作用。压敏电阻的接入位置尽可能在EMI滤波器的共模扼流圈之后,但离三极管或其它半导体功率器件要尽可能远些,以免压敏电阻的响应时间会延误对三极管的有效保护。
作者
徐成岳
詹云峰
李志荣
孔德梅
机构地区
佛山市质量计量监督检测中心
出处
《中国照明电器》
2007年第10期25-27,共3页
China Light & Lighting
关键词
浪涌试验
压敏电阻
EMI滤波器
接入位置
分类号
TM83 [电气工程—高电压与绝缘技术]
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中国照明电器
2007年 第10期
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