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浪涌试验损坏电子镇流器/电子变压器三极管问题探讨

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摘要 浪涌试验是模拟雷击或开关操作的一项EMC抗扰度试验。浪涌冲击会损坏灯具或家电产品中半导体功率器件,在电源整流回路中加接压敏电阻可起到一定的保护电路作用。压敏电阻的接入位置尽可能在EMI滤波器的共模扼流圈之后,但离三极管或其它半导体功率器件要尽可能远些,以免压敏电阻的响应时间会延误对三极管的有效保护。
出处 《中国照明电器》 2007年第10期25-27,共3页 China Light & Lighting
  • 相关文献

参考文献3

  • 1电磁兼容标准实施指南.北京:中国标准出版社,1999.9.
  • 2GB/T18595—2001 一般照明用电设备电磁兼容抗扰度要求.
  • 3CEI IEC61547:1995 + A 1:2000 Equipment for general lighting purpose - EMC immunity requirements.

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