4200-SCS半导体特性分析系统新增C-V测量功能

4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C—VN量功能——4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中，能在10kHz～10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法（fF）和纳法（nF）级电容。该设备具有直观的点击式配置界面，线缆连接简单，内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C—V测量结果。