电磁测量技术在单分子层膜参数测试中的应用

本文介绍用光闭环式表面张力传感器、面积传感器和温度传感器与８０９８单片机组成的测量装置，测量不溶性物质单分子层膜的表面张力，测量分子平均占有面积的变化及控制提膜速度并制备ＬＢ膜，其中测量一个分子的厚度的精度可达１ｎｍ，（表面压力──分子平均占有表面积）等温曲线可直接显示在ＣＲＴ屏幕上。