解决质谱法问题的新技术—ICP—MS
出处
《国外分析仪器技术与应用》
1990年第4期28-32,共5页
Foreign Analytical Instrumentation
-
1Nicho.,P,王成智.用于过程监测和控制的质谱法[J].国外分析仪器技术与应用,1991(3):43-48.
-
2江宇,唐文.质谱检漏法[J].高压电器技术,1996(1):39-42.
-
3刘建利.薄膜导入质谱法及其应用[J].分析仪器,1990(4):1-6.
-
4周积壮.Plasma 40电感耦合等离子体发射光谱仪高压电源电路剖析和维修[J].国外分析仪器技术与应用,1992(4):47-49.
-
5彭学军,江祖成,许廉发.一种简单的ICP光电直读光谱仪[J].分析仪器,1992(2):29-32. 被引量:1
-
6汪光木.PE—400电感耦合等离子体发射光谱仪故障一例[J].仪器与未来,1993(6):29-29.
-
7刘晶磊,章新泉,童迎东.ELAN250型电感耦合等离子体质谱仪故障诊断与排除[J].分析测试仪器通讯,1997,7(4):240-240.
-
8Char.,EL,张循.利用简单毛细管接口的热重分析法/质谱法(TA/MS)联用技术[J].国外分析仪器技术与应用,1990(4):23-27.
-
9王成智,张群.VG PQe型电感耦合等离子体—质谱计的新应用[J].国外分析仪器技术与应用,1993(1):21-26.
-
10郝金女,李顺利.水平式炬管电感耦合等离子体发射光谱仪的应用[J].现代仪器使用与维修,1998(1):23-27.
;