摘要
阐述了原子力显微镜(AFM)、化学力显微镜(CFM)、X射线光电子能谱(XPS)、飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)几种先进表面分析技术的基本原理以及用于纸浆纤维表面研究的新进展。
With the progress of science and technology, some modern surface analysis methods have been used in pulp and paper areas. This paper mainly introduced the fundamentals of some modern analysis techniques： AFM, CFM, XPS, ToF-SIMS and their applications in fiber surface studies.
出处
《中国造纸》
CAS
北大核心
2007年第12期53-58,共6页
China Pulp & Paper
基金
天津科技发展计划项目(06TXTJJC14302)
国家自然科学基金(项目编号30771694)的资助。
关键词
纤维表面
原子力显微镜
化学力显微镜
X射线光电子能谱
飞行时间二次离子质谱
fiber surface
atomic force microscopy （AFM）
chemical force microscopy （CFM）
X-ray photoelectron spectroscopy （XPS）
time offlight secondary ion mass spectroscopy （ToF-SIMS）
