X线头影测量不调值对口腔正畸诊断的影响

目的:探讨X线头影测量不调值对正畸诊断的影响。方法:对41例正畸病例进行模型分析(牙弓长度拥挤度s、pee's曲线、Bolton指数、上下第一磨牙的关系的分析、测量)及头颅定位侧位片FMIA值的测量,计算X线头影测量不调值=(57-FMIA)×0.8。结果:仅作模型分析和模型分析结合X线头颅定位侧位片FMIA值的测量两种计算值对正畸诊断结果差异有统计学意义。结论:下颌拥挤的总体不调值应加上X线头影测量不调值。