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用X射线研究由PI膜制备石墨化碳微晶的结构特性 被引量:3

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摘要 用X射线衍射技术对固相炭化过的PI(聚酰亚胺)膜的石墨化碳微晶的结构特征进行了考察.结果表明,该薄膜的石墨化始于热处理温度2 100℃左右;在2825℃及其以上温度热处理过的薄膜样品的微晶碳层具有很好的取向,并呈现出明显的多相石墨化现象,获得了该试样的镶嵌结构信息;对于3 160℃热处理过的薄膜样品来说,其层间距和镶嵌度分别为0.335 45nm和5.4°. 同时,就其石墨化度稍有不同的两种结晶相的来源进行了一些推理性的讨论,这对更全面地了解该类石墨化产物的结构提供了新的科学知识.
出处 《中国科学(E辑)》 CSCD 1997年第4期381-384,共4页 Science in China(Series E)
基金 国家自然科学基金 北京中关村地区联合分析测试中心资助项目
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同被引文献36

引证文献3

二级引证文献17

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