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VXI总线转换系统与被测印制板接口电路的设计

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摘要 在电路印制板性能检测与故障诊断中,利用VXI总线模块仪器作为激励信号源,由于转换系统与被测单元间的不匹配,产生信号变形,影响了电路印制板性能的测试。本文针对这一问题进行了讨论,提出了改进措施,给出了实验结果。
出处 《微电子测试》 1997年第3期7-8,共2页
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