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4200-CVU:C-V测量功能模块
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摘要
吉时利仪器为其4200-SCS半导体特性分析系统新增一套C-V测量功能-4200-CVU。4200-CVU能以测量模块的形式插入4200-SCS的任意可用仪器插槽中,能在10kHz到10MHz的频率范围内快速而方便地测量飞法(fF)和纳法(nF)级电容。该设备具有直观的点击式配置界面,线缆连接简单,内置的元件模型能够使用户直接获得有效的C—V测量结果。
出处
《世界电子元器件》
2007年第11期74-74,共1页
Global Electronics China
关键词
C-V测量
功能模块
4200-SCS
半导体特性分析系统
测量功能
测量模块
频率范围
元件模型
分类号
TN307 [电子电信—物理电子学]
TN305 [电子电信—物理电子学]
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