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单总线技术的硅光电池特性实验装置 被引量:3

Experimental equiment of silicon photocell based on single bus technology
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摘要 硅光电池的温度特性将关系到应用光电池的仪器设备的温度漂移,影响到测量稳定性及控制精度等主要指标。因此,对硅光电池温度特性的测量非常重要。如何运用基于单总线技术的温度传感器DS18B20测量其温度,并结合单片机控制技术,给出了一种自动化程度较高的光电池温度特性测量的设计方案,主要包括硬件设计和软件设计两部分。结果表明该方案切实可行,为实际应用提供了理论依据。 Temperature characteristic of the silicon photocell influences temperature drifting of the instrument which uses the silicon photocell, including the measurement stability, the control precision and so on. Therefore, it is very important to measure the temperature characteristic of the silicon photocell. DS18B20 is used to measure the temperature of silicon photocell based on single bus technology and single-chip computer control technology. A higher-degree automatil measurement method is proposed including hardware design and software design. The result shows that this scheme is feasible and provides theoretical basis for practical applications.
出处 《北京机械工业学院学报》 2007年第2期32-34,共3页 Journal of Beijing Institute of Machinery
基金 北京市属市管高校人才强教计划资助项目 机电系统测控北京市重点实验开放课题(KF20061123207)
关键词 硅光电池 温度测量 单片机 silicon photocell temperature measurement single-chip computer
  • 相关文献

参考文献5

二级参考文献7

  • 1何立民.MCS51系列单片机应用系统设计[M].北京:北京航空航天大学出版社,1993..
  • 2马忠梅.单片机的C语言应用程序设计[M].北京:北京航空航天大学出版社,2000.245-267.
  • 3陈建铎.Intel单片机应用技术[M].西安:陕西科学技术出版社,1997..
  • 4何立民.单片机应用技术选编[M].北京:北京航空航天大学出版社,1995..
  • 5.DSl8820技术资料[EB/OL].美国MAXIM/DALLAS半导体公司技术网站,.
  • 6张晓光,林家骏.KBD2型数字式自动量程兆欧表的研制[J].电测与仪表,2001,38(2):10-12. 被引量:6
  • 7叶丹,齐国生,洪强宁,李小舟.基于单片机的自适应温度控制系统[J].传感器技术,2002,21(3):27-30. 被引量:33

共引文献53

同被引文献20

引证文献3

二级引证文献5

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