摘要
地面模拟单粒子效应(Single event effect,SEE)采用的模拟源主要有加速器(重离子加速器、高能质子加速器)、天然放射源(锎裂变碎片源)和脉冲激光模拟源。本文针对三种不同的模拟源(脉冲激光、重离子、锎源),开展IDT6116 SRAM单粒子效应不同模拟源的等效性实验研究,探索三种不同的模拟源评估器件和集成电路抗单粒子效应敏感性的等效性,并将三种不同的模拟源的实验结果进行分析比对,比对结果表明,三种不同模拟源模拟实验取得的实验结论基本一致。
There are accelerator simulation source(heavy ion, proton), pulsed laser simulation source and californium -252 simulation source to single-event effects testing on the ground. It describes equivalent of single event effect (SEE)simulation source to use three different simulation source(pulsed laser, heavy ion and californium -252)simulating IDT6116 SRAM SEE sensitivity experiment. The experimental data have been compared for three different simulation source, the results show that the experimental conclusion of single event effect are consistent with.
出处
《核技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第2期123-128,共6页
Nuclear Techniques
关键词
单粒子效应
模拟源
脉冲激光
重离子
锎源
Single-event effect, Simulation source, Pulsed laser, Heavy ion, Californium-252