颗粒涂层法制备莫来石瓷

本文叙述了以α－Ａｌ２Ｏ３（平均粒径〈０．５μｍ）、正硅酸乙酯（ＴＥＯＳ）为原料，通过采用颗粒涂层法在α－Ａｌ２Ｏ３上涂覆ＳｉＯ３形成涂层复合粉料而制备的莫来石瓷。试验中用氟硅酸钾法测定了复合粉料的二氧化硅含量，并对涂层粉料的涂层质量进行了ＴＥＭ观察、ξ电位测量、ＸＲＤ分析和ＴＧ－ＤＴＡ分析，对涂层粉料烧结成的莫来瓷进行体积密度和开口气孔率的测定，利用ＸＲＤ分析了物相组成。