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基于状态机设计的数字系统的一种测试算法

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摘要 在现今的数字设计中,由于系统的复杂性和对于产品可靠性的更高的要求,测试在当今的设计中的地位与日俱增。本文根据图论中的最短路算法,给出了一种基于状态机设计的数字系统的测试方法,该方法是对测试中的测试时间与故障覆盖的一个较好的折中。
作者 陈晓敏
出处 《宜宾学院学报》 2007年第12期24-25,共2页 Journal of Yibin University
  • 相关文献

参考文献2

  • 1[1]http://www.hrdate.com/chanpin/chanpinll.htm 2007-7-8.
  • 2阎石.数字电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,1988..

共引文献5

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