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Ge_xSi_(1-x)/Si 超晶格 PIN 波导探测器电输运过程分析

Analysis of Electronic Transport of Ge x Si 1- x /Si Supplattic PIN Waveguide Photodetector
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摘要 文章定性和定量地分析了GexSi1-x/Si超晶格PIN波导探测器的电输运过程,具体说明了量子效率、光电流、频率响应带宽等重要参数的物理意义.并将理论分析与实验结果进行比较,结果表明,两者符合得较好. In this paper electronic transport of GeSi/Si supperlattic PIN waveguide photodetector is analysed. The description of the physical meanings for quantum efficiency, photocurrent and bandwidth are presented. It is found that the theoretical analysis is well coincided with experimental results.
机构地区 西安交通大学
出处 《西安交通大学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1997年第9期58-61,66,共5页 Journal of Xi'an Jiaotong University
基金 国家自然科学基金
关键词 光电探测器 超晶格 波导 硅化锗 PIN探测器 photodetector superlattic waveguide
  • 相关文献

参考文献3

  • 1李泽民,光纤通讯,1992年,272页
  • 2王清正,光电测控技术,1989年,84页
  • 3Lang D V,Appl Phys Lett,1985年,47卷,12期,1333页

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