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R&S将亮相2008年国际集成电路研讨会暨展览会

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摘要 在2008年3月10日至11日在上海世贸商城举办的2008年国际集成电路研讨会暨展览会上,罗德与施瓦茨公司将展示其全面领先的射频和微波测试解决方案。包括手机集成电路的各种测试解决方案:R&S CRTU、音频分析仪R&S UPV、针对射频部分的测试的无线通信测试仪R&S CMU200。R&S公司还将展示认证型接收机R&S ESCI、ESU以及抗扰度测试方面的R&S IMS测试设备。在通用测量方面,R&S公司有各种信号源和频谱仪可供选择。
出处 《移动通信》 2008年第3期157-157,共1页 Mobile Communications

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