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CyberOptics在2008年上海Nepcon展示高性能AOI系统

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摘要 CyberOptics公司日前宣布，在中国上海2008年4月8～11日举行的NEPCONChina／EMTChi．na2008展览会上，它将在西L1厅第1A26号展台展示其屡获大奖的Flex超高分辨率自动光学检测系统（AOI）。

出处《电子工业专用设备》 2008年第3期77-77,共1页 Equipment for Electronic Products Manufacturing

关键词 AOI系统上海 Optics公司自动光学检测系统性能 CYBER 超高分辨率 FLEX

分类号 TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学] TH74 [机械工程—光学工程]

引文网络
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电子工业专用设备

2008年第3期

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