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基于JTAG的嵌入式调试技术的研究 被引量:5

Research of Embedded Debug Based on JTAG
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摘要 文章以ARM7TDMI处理器为例,详细分析了JTAG调试嵌入式处理器的工作原理,研究了JTAG下载程序的效率问题,并针对ARM处理器提出了一个具有普遍意义的高效下载程序的算法。 The theory of debugging an embedded processor through JTAG based on ARM7TDMI is described. The efficiency of downloading program with JTAG is analyzed. A general downloading algorithm of high performance is put forward for ARM.
出处 《仪表技术》 2008年第3期24-26,29,共4页 Instrumentation Technology
关键词 ARM JTAG 嵌入式调试 ARM JTAG embedded debug
  • 相关文献

参考文献4

  • 1IEEE Standard 1149.1--Test Access Port and Boundary-Scan Architecture [ S ].
  • 2张雅娟,戴胜华.JTAG基本原理及仿真器性能比较[J].单片机与嵌入式系统应用,2007,7(5):18-20. 被引量:3
  • 3OPEN-JTAG开发小组.ARMJTAG调试原理[Z].2007.
  • 4ARM公司.ARM7TDMI technical Reference Manual [ Z].2001.

二级参考文献2

  • 1OPEN—JTAG开发小组.ARMJTAG调试原理,2004.
  • 2IEEE Standard 1149. 1 - Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.

共引文献3

同被引文献26

引证文献5

二级引证文献9

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