《半导体国际》第四届成品率提升研讨会

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摘要主题深亚微米时代的工艺和成品率控制当晶体管的密度和速度随着人们对器件性能的需求而不断提升时，深亚微米时代，半导体工艺制造对成品率显得更加的敏感。工艺设备和各种检测设备推陈出新，在提高生产效率的同时，成品率的提升也成了关键，而不断引入的新材料对成品率的影响也日益明显，如何在技术的演变和革新中维持高的成品率？

出处《集成电路应用》 2008年第1期7-7,共1页 Application of IC

关键词《半导体国际》成品率深亚微米工艺制造器件性能推陈出新检测设备工艺设备

分类号 TN3 [电子电信—物理电子学] TG339 [金属学及工艺—金属压力加工]

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2王少熙,王康,樊晓桠,张盛兵.基于商用工艺的抗辐射触发器单元设计[J].核电子学与探测技术,2013,33(1):79-84. 被引量：1
3黄小岭.基于节点密度和速度的新型路由协议ZRP-DV研究与仿真[J].电脑知识与技术,2010,6(3X):2115-2118. 被引量：3
4Oymbet EnerChiP电池可用于纳米级可穿戴和物联网设备[J].中国集成电路,2014,23(6):3-3.
5Cymbet EnerChip电池可用于纳米级可穿戴和物联网设备[J].单片机与嵌入式系统应用,2014,14(7):45-45.
6IBM制成32nm SOI嵌入式DRAM[J].中国集成电路,2009,18(10):9-10.
7何捷.频率综合器中电荷泵相位噪声参数模型[J].绍兴文理学院学报,2010,30(7):44-49.
8美光科技第三代低延时内存[J].电子设计工程,2010,18(8):119-119.
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10半导体国际[J].集成电路应用,2008,25(1):7-7.

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