吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术
出处
《电子测量技术》
2008年第2期195-195,共1页
Electronic Measurement Technology
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1吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].国外电子测量技术,2008,27(2):84-84.
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2吉时利联合Stratophere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].电子测试,2008,19(4):90-90.
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3吉时利与Stratosphere Solutions合作研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].信息技术与标准化,2008(3):60-60.
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4吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].电子与电脑,2008(3):102-103.
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5吉时利联合Stratosphere Solutions研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].电子世界,2008(3):4-4.
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6吉时利联手研发65nm以下先进工艺特征分析技术[J].世界电子元器件,2008(3):102-102.
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7秦友兰,倪宗祥.提拉法生长蓝宝石晶体的工艺特征及晶体质量检测[J].重庆大学学报（自然科学版）,1994,17(6):129-132. 被引量：8
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8吉时利在射频测试仪器中新增WiMAX测试功能[J].仪器仪表标准化与计量,2008(4).
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9刘泽坚.特征分析技术的新进展[J].微电子测试,1994,8(2):15-22.
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10瑞士采用ERTMS／ETCS2级系统[J].中国铁路,2006(4):78-78.
