R&S引领集成电路测试解决方案 2008年国际集成电路研讨会暨展览会
出处
《国外电子测量技术》
2008年第2期83-83,共1页
Foreign Electronic Measurement Technology
-
1R＆S参展2009年国际集成电路研讨会暨展览会[J].广播与电视技术,2009(3):156-157.
-
2R＆S引领集成电路测试解决方案[J].电信技术,2008(2):52-52.
-
32007年矽玛特三路出击[J].电子技术（上海）,2007,34(4):37-37.
-
4R＆S公司将全面展出其射频和微波解决方案[J].中国无线电,2008(2):72-72.
-
5R&S引领集成电路测试解决方案[J].电子测量技术,2008,31(2):197-197.
-
6“第十二届国际集成电路研讨会暨展览会”在上海举行[J].电子技术（上海）,2007,34(3):17-17.
-
7参加中国领先系统设计盛会掌握IC设计最新解决方案[J].电子设计技术 EDN CHINA,2007,14(2):115-115.
-
8历届规模最大的《国际集成电路研讨会暨展览会》在北京闭幕[J].电子技术应用,2006,32(5):107-107.
-
9国际集成电路研讨会暨展览会在上海揭幕[J].电子技术（上海）,2006,33(3):79-79.
-
10第九届国际集成电路研讨会暨展览会（IIC-China 2004）[J].数字化工,2003(11):31-31.
