摘要
通过一个仪器抗干扰处理的实践,分析干扰形成错误的机理。首先对干扰进行描述,然后分析错误形成的可能性以及目前解决干扰问题的难点,最后提出对MCU改进的建议。
出处
《单片机与嵌入式系统应用》
2008年第4期5-6,36,共3页
Microcontrollers & Embedded Systems
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