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赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析
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摘要
2008年3月20日,半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,为非易失性存储器(NVM)市场提供知识产权解决方案的领导厂商赛凡半导体有限公司已经同意购买七套V5000e系统,对其下一代非易失性存储器(NVM)设备进行设计检测和调试,包括第一个45nm设计的产品。赛凡是在与其他主要竞争对手进行比较基准测试之后选择V5000e的。
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2008年第4期376-376,共1页
Semiconductor Technology
关键词
非易失性存储器
设计特性
设备调试
半导体测试
知识产权
基准测试
竞争对手
分类号
TP333 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP311.52 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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0
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0
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0
1
赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代NVM设备调试和设计特性分析[J]
.电信网技术,2008(4):43-43.
2
SiTest Solutions采用惠瑞捷V5000e进行闪存测试[J]
.国外电子测量技术,2008,27(10):81-81.
3
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电子测量技术,2007,30(3):192-192.
4
ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J]
.国外电子测量技术,2009,28(3):20-20.
5
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电子与电脑,2007(4):41-41.
6
惠瑞捷半导体科技增加并行机制以缩减存储器测试开发时间[J]
.电信技术,2007(4):54-54.
7
本刊通讯员.
惠瑞捷荣登VLSI Research客户满意度榜首[J]
.电子与封装,2009,9(7):21-21.
8
Rambus选择惠瑞捷V93000 HSM系列测试下一代超高速存储芯片[J]
.电信网技术,2008(4):54-54.
9
惠瑞捷推出业内首创可扩展测试机台系列V93000 Smart Scale平台[J]
.电子技术应用,2011,37(10):6-6.
10
本刊通讯员.
ASE Test公司授予惠瑞捷“2008年年度供应商”称号[J]
.电子与封装,2009,9(3):45-46.
半导体技术
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