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赛凡选择惠瑞捷V5000e进行下一代45nm非易失性存储器设备调试和设计特性分析

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摘要 2008年3月20日,半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布,为非易失性存储器(NVM)市场提供知识产权解决方案的领导厂商赛凡半导体有限公司已经同意购买七套V5000e系统,对其下一代非易失性存储器(NVM)设备进行设计检测和调试,包括第一个45nm设计的产品。赛凡是在与其他主要竞争对手进行比较基准测试之后选择V5000e的。
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2008年第4期376-376,共1页 Semiconductor Technology

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