加速器质谱测量用HfF4样品的制备

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摘要测量^182Hf时如何排除和鉴别同量异位素^182W的干扰，提高测量灵敏度，是AMS测量^182Hf所要解决的关键问题。

作者姜涛杨通在杨君

出处《中国工程物理研究院科技年报》 2006年第1期341-341,共1页 Annual Report of China Academy of Engineering Physics

关键词质谱测量加速器制备样品同量异位素测量灵敏度 AMS

分类号 TL503.3 [核科学技术—核技术及应用] P597 [天文地球—地球化学]

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