热表面电离质谱分析超微量钚同位素时的本底干扰

在热表面电离质谱计分析超微量钚同位素中，由于钚同位素产生的离子流强度较小，质谱计产生的本底干扰就必须加以考虑，才能提高钚同位素分析的准确度。本底干扰来源有：（1）仪器本身电子学系统产生的本底噪声；（2）离子流与残留的气体分子碰撞后发生散射而进入离子计数器的粒子；（3）离子源产生的本底。（1）和（2）可以忽略不计，干扰主要来源于离子源产生的本底。