提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法

伴随着现代大规模集成电路制造工艺的快速发展，设计工程师必需直面芯片制造过程中可能产生的物理缺陷。现今流行的可测试性设计（DFT：Design For Testability）应运而生，并为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。