罗德与施瓦茨公司和Atmel共推数字测试模块R＆S TS-PHDT

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摘要罗德与施瓦茨公司日前推出和Atmel射频与汽车业务部紧密合作共同开发的高速数字测试模块R＆S TS-PHDT，支持高达40MHz的数据速率以及1．5GB的存储容量。测试电子组件所需要的激励信号、期望值以及实测值都可以存储在本地。由于模块内部能实时对比实测值与期望值，记录的测试数据不再需要传送到系统控制器，

出处《电子设计应用》 2007年第10期135-136,共2页 Electronic Design & Application World

关键词罗德与施瓦茨公司 ATMEL 测试模块存储容量数据速率激励信号电子组件测试数据

分类号 TP332 [自动化与计算机技术—计算机系统结构] TM935.21 [电气工程—电力电子与电力传动]

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