基于量子化霍尔电阻考核的国家电阻基准的稳定性

Stability Research of National Artifact Resistance Standards Based on Quantum Hall Resistance

报告了自1990年以来通过与量子化霍尔电阻比对考核的国家直流电阻(实物)基准的长期漂移率及偏差。结果表明2001年以来,国家直流电阻(实物)副基准的漂移率为-0.0551μΩ/a,主基准的漂移率为-0.0808μΩ/a;2006年10月25日,国家直流电阻(实物)基准复现的电阻量值较量子化霍尔电阻的相对偏差为+0.677μΩ/Ω,预计2007年1月1日需要修正-0.69μΩ/Ω。

The drifts and deviations of National DC （artifact） Resistance Standards by comparison with Quantum Hall Resis- tance（QHR） since 1990 is reported. The results indicate that the Secondary （artifact） Resistance Standards has been drifting in - 0.0551 μΩ/a since 2001, and the Primary （artifact） Resistance Standards in - 0.0808μΩ/a. Moreover, the resistance based on the Primary （artifact） Resistance Standards deviated ＋ 0.677 μΩ/Ω of that on QHR on October 25, 2006, and - 0.69μΩ/Ω is expected to correct on January 1, 2007.