KLA—Tencor推出光罩检查系统的全新TeraFab系列

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摘要 KLA—Tencor公司宣布推出了全新系列的光罩检查系统，为晶片厂提供更灵活的配置方式，以检验进货的光罩，并检查生产光罩是否存在会降低产能并增加生产风险的污染物。TeraFab系统提供了三种基本配置，以满足逻辑集成电路和内存晶片厂及不同代光罩的特殊检查要求。这些配置为芯片制造商提供了极具成本效益的光罩质量控制的先进工具。

出处《中国集成电路》 2008年第4期8-8,共1页 China lntegrated Circuit

关键词检查系统 KLA 光罩逻辑集成电路生产风险芯片制造商 ab系统检查要求

分类号 TN431.2 [电子电信—微电子学与固体电子学] U169 [交通运输工程]

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中国集成电路

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