期刊文献+

基于IP核的SOC中ADC的测试技术 被引量:2

下载PDF
导出
摘要 本文简单描述了SOC芯片测试技术的复杂性,模数转换器(ADC)是SOC芯片中的重要模块,随着器件时钟频率的不断提高,高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今SOC芯片中的ADC测试研究重点。本文重点介绍了一款SOC芯片中高速ADC测试的方法。
作者 刘炜 张琳
出处 《中国集成电路》 2008年第4期79-82,共4页 China lntegrated Circuit
  • 相关文献

参考文献3

  • 1[1]A.Chandra and K.Chakrabarty,"Test Resource Partitioning for SOCs",IEEE Design and Test of com-puters,PP.80-91,2001.
  • 2[2]F.Nekoogar,F.Nekoogar.From ASICs to SOCs.New Jersey:Prentice Hall PTR,2003.
  • 3[3]K.Chakrabarty,"Optimal Test Access Architec-tures for System-on-a-Chip",ACM Trans.Design Automation of Electronic System,6(1),PP.26-49,2001

同被引文献8

  • 1SE-KYOUNG Y,JI-HOON K,SUNG-KU C. A study oil the methodolo- gy for testing of RFID system at Library. International Conference on Digital Object Identifier: 10. 1109/MUE. 2007.58 Publication Year: 2007, Page(s) : 1076 - 1079.
  • 2AN10841 MIFARE Plus Card Coil Design (PUBLIC) Rev. Ol - 26 June 2009 172701. [2012 - 10 -07]. www. en. nxp. com.
  • 3FRITZ G, BEROULLE, V, NGUYEN M D, et al. Read-Error-Rate eval- uation for RFID system on-line testing. 2010 IEEE 16th International Digital Object Identifier: 10. 1109/IMS3TVi. 2010. 5503016 Publiea-tion Year :2010, Page(s) : 1 - 6.
  • 4Contaetless Single-trip Ticket tC MF0 IC UI Functional Specification Product Specification (PUBLIC) Rev. 3.8 -- 22 December 2010. 028638. [2012 - 10 -07]. www. cn. nxp. corn .
  • 5Cristo da Costa By from Teradyne, Inc. FIARDWARE FOR PRODUC- TION TEST OF RFID INTERFACE EMBEDDED INTO CHIPS FOR SMART CARDS AND LABELS USED IN CONTACTLESS PPLICA- TIONS. Test Conference,2000. Proceedings. International Digital Ob- ject Identifier: 10.1 I09/TEST. 2000. 894241 Pnblication Year:2000, Page(s) :485 -491.
  • 6凌华科技(中国)有限公司.Adlink gpib driver VER3.06User Guide CD,2012.
  • 7周磊.基于虚拟仪器的RFID测试系统的设计[D].武汉:华中科技大学.2007.
  • 8伍希,罗和平,阮爱武.数字测试仪下的参数测试单元的设计[J].今日电子,2009(4):68-69. 被引量:4

引证文献2

二级引证文献4

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部