泰克推出更完善的系列测试工具
出处
《测控技术》
CSCD
2008年第4期84-84,共1页
Measurement & Control Technology
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1泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具[J].电子测量技术,2008,31(3):191-191.
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2泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具[J].电子测试,2008,19(5):98-98.
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3李博,胡建萍.同步动态随机访问存储器控制器的设计[J].杭州电子科技大学学报(自然科学版),2009,29(2):21-24.
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4泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具[J].电子工业专用设备,2008,37(4):69-70.
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5德州仪器推出新一代3ADDR端接稳压器[J].自动化信息,2008(9):17-17.
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6泰克TLA6000系列逻辑分析仪推出新选件,简化DDR2测试[J].国外电子测量技术,2011,30(5):80-81.
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7Roy.更高规格 更强电气性能 DDR3内存超频实测[J].电脑迷,2009(15):42-42.
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8泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方案[J].微计算机信息,2009,25(24):256-256.
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9泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能[J].电子测量与仪器学报,2009,23(12):54-54. 被引量:1
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10泰克为业界领先的DDR测试和验证解决方案系列增加两项新功能[J].国外电子测量技术,2009,28(12):93-93.
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