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研华亮相IIC-China2008
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摘要
2008年3月3～4日，集成电路展览会IIC-China2008和嵌入式系统展览会ESC-China2008在深圳隆重举行。
出处
《测控技术》
CSCD
2008年第4期100-100,共1页
Measurement & Control Technology
关键词
嵌入式系统
集成电路
展览会
分类号
TP316 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
TN402 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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测控技术
2008年 第4期
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