一种系统芯片的功能测试方法

A method of functions test of SoC

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摘要本文通过对一款系统芯片(System on Chip,SoC)——"成电之芯"的功能测试平台的搭建,介绍了一种实现系统芯片功能测试的方法。 Via the test platform construction of a System on Chip the chip of UESTC, the paper introduces a method of funetions test of SoC.

作者宗竹林何春刘伟宗云

机构地区电子科技大学电子科学技术研究院

出处《中国集成电路》 2008年第5期68-71,共4页 China lntegrated Circuit

关键词系统芯片雷达信号处理电路测试平台 System on Chip radar signal processing circuit testing platform

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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