期刊文献+

走在成品率前沿的KLA-Tencor 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 IC制造商在提高盈利水平、缩短产品周期的同时,面临着不断增加的制造复杂性和成品率的压力。如何在重要工艺步骤之后的生产线中集成缺陷检侧和管理的功能?如何在更严苛的设计规则下分类缺陷?这些都是困扰Fab的难题。KEA-Tencor中国技术总监任建宇表示,“在良率管理与工艺控制方面,KLA—Tencor致力于提供最优的成品率解决方案。”
作者 王志华
出处 《集成电路应用》 2008年第4期13-13,共1页 Application of IC
  • 相关文献

同被引文献2

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部