X射线衍射仪系统误差校正曲线的研究

提出了用多个标准样品的X射线衍射角数据共同拟合一条系统误差曲线的方法。并用此方法求得CaCO_3粉末晶体的点阵参数,同理论标准点阵参数值作了相对误差分析,结果表明:在相同测角准确度下,与单标样法相比,用多标法校正后的一组衍射角数据所求得的点阵参数的相对误差大大降低。