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硫化锌薄膜的制备和结构分析 被引量:3

Preparation and Structure Analysis of Zinc Sulfide Thin Film
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摘要 用常规分舟热蒸发法在玻璃衬底上制备硫化锌薄膜,用X射线衍射和透射电子显微镜研究该薄膜的晶体结构,发现硫化锌薄膜与流化锌粉末在晶体结构上存在差异,实验证实硫化锌晶体是具有高于性的共价键晶体。 The zinc sulfide thin films have been prepared on glass substrate by thermal evaporation with two separate boats in vacuum. After studing the films with X-ray diffraction (XRD) and transmission electron microscope (TEM), structures of the film and the powder of ZnS are found to be different. The experimental results indicate that the crystalline of the zinc sulfide is the one of covalent bond with ionicity.
机构地区 厦门大学物理系
出处 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 1997年第4期347-350,共4页 Research & Progress of SSE
基金 福建省自然科学基金
关键词 硫化锌薄膜 化合物半导体 薄膜 ZnS Thin Film X-ray Diffraction Transmission Electron Microscope
  • 相关文献

参考文献5

  • 1柳兆洪,厦门大学学报,1997年,36卷,1期,52页
  • 2王余姜,厦门大学学报,1995年,34卷,4期,553页
  • 3柳兆洪,厦门大学学报,1993年,32卷,5期,579页
  • 4王力衡,薄膜(译),1987年,40页
  • 5团体著者,固体发光,1976年,410页

同被引文献15

引证文献3

二级引证文献3

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