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含杂质碳氮薄膜的X射线衍射研究
被引量:
1
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摘要
自从Niu等首次获得接近β-C3N4的电子衍射谱以来,许多研究小组都报道说已制备出β-C3N4微晶。但在本实验中发现,当含有铁等杂质时,碳膜和碳氢膜的X射线衍射谱中都出现几条与β-C3N4的理论计算相近的谱线。这提示在β-C3N4的研究中,需要排除杂质的影响,制备出纯净的样品,以便得出明确可靠的结论。
作者
赵敏学
顾有松
常香荣
田中卓
袁磊
张云汉
机构地区
北京科技大学材料物理系
中国科学院凝聚态物理中心北京真空物理实验室
北京联合大学建材轻工学院材料工程系
出处
《真空科学与技术》
CSCD
北大核心
1997年第6期434-437,共4页
Vacuum Science and Technology
基金
国家自然科学基金
关键词
薄膜
杂质
碳氮薄膜
X射线衍射
微晶
分类号
O484.4 [理学—固体物理]
O613.71 [理学—无机化学]
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真空科学与技术
1997年 第6期
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