第十六届国际二次离子质谱学会议在日本召开

第十六届国际二次离子质谱学会议（The 16th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry,SIMS XVI）于2007年10月29日至11月2日在日本西部金泽市（Kanazawa）召开,原中国真空学会常务理事、清华大学著名教授查良镇先生在会上作了学术报告,并代表中国首次当选为新一届国际组织委员会（International Organization Committee）委员。