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有机锡化合物的光电子能谱(XPS)和质谱(MS)研究Ⅱ

X RAY PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY (XPS) AND MASS SPECTRUM (MS) STUDY OF ORGANIC TIN COMPOUNDS Ⅱ
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摘要 本文报道了7种新合成的(Z)-1-[2-(三芳基锡)乙烯基]-1-环庚醇有机锡化合物的XPS和MS结果。通过XPS讨论了化合物中不同取代基的存在,对锡内层电子的影响及取代基对Ols结合能化学位移的作用。结果表明,卤素在这里起着重要的作用。通过MS和XPS讨论了不同取代基对O→Sn键的影响。 Seven new synthetical (Z) 1 [2 (Triarylstannyl) vinyl] 1 cycloheptanols organic tin compounds were studied by X ray photoelectron spectroscopy and mass spectrum method.The influence of different replacement radical in compounds on the d orbit of tin atom was discussed.The coordinate substance had an effect on the chemical displacement of O ls binding energy.The O→Sn bond was affected by the different replacement radical.The results of X ray photoelectron spectroscopy and mass spectrum show that Cl,Br and I had the important action.
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1997年第5期20-24,共5页 Spectroscopy and Spectral Analysis
基金 国家自然科学基金
关键词 XPS MS 配合物 有机锡化合物 XPS, MS, Complex, Binding energy, Electron cloud
  • 相关文献

参考文献4

  • 1李兴林,张瑞峰,于英.有机锗化合物的光电子能谱研究[J].分析测试学报,1994,13(4):77-80. 被引量:3
  • 2傅芳信,J Organomet Chem,1995年,490卷,163页
  • 3Carlson T A,Photoelectron and Spectroscopy,1993年,162页
  • 4印永嘉,大学化学手册,1985年,40页

共引文献2

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