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X射线荧光光谱分析 被引量:15

Progress in X Ray Fluorescence Analysis
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摘要 X射线荧光光谱分析陶光仪1964年毕业于南京大学化学系,先后在中国科学院化学研究所和上海硅酸盐研究所从事成分分析工作。1973年起进入X射线荧光光谱(XRF)分析领域。1982~1993年期间曾在美国国家标准局分析化学中心和澳大利亚CSIRO所属土壤... The present review covers the period of July 1994 to June 1996 during which 149 papers on X Ray Fluorescence Analysis were published mainly by Chinese scientists.The overview,developments of XRF instrumentation ,synchrotron X Ray fluorescence,total reflection X Ray fluorescence,partical induced X Ray emission,quantitative,qualitative and chemical state analysis ,sample preparation and applications are focused on and totally 159 references are cited in this review.
作者 陶光仪
出处 《分析试验室》 CAS CSCD 1997年第3期94-100,共7页 Chinese Journal of Analysis Laboratory
关键词 X射线荧光光谱 XRF SXRF PIXE X ray fluorescence analysis sychrotron X ray fluorescence analysis total reflection X ray fluoresence analysis partical induced X ray emission analysis quantitative analysis sample preparation review
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