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用于SiP的电镀铜通孔填孔技术 被引量:2

Through Hole Filling Technology by Copper Electroplating for SiP
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摘要 文章介绍了采用不含加速剂的直流电镀方案来实现通孔填孔技术,并提出通孔填孔的可能电化学机理。 The paper describes that achieves through hole filling by accelerator-free formulas in DC plating.A possible electrochemical mechanism for through hole filling is proposed in the paper.
作者 丁志廉
出处 《印制电路信息》 2007年第6期36-39,共4页 Printed Circuit Information
关键词 系统封装 通孔填孔 强抑制剂 含加速剂方案 无加速剂方案 依赖电位吸附 依赖迁移吸附 system in package(SIP) through hole filling strong inhibitor accelerator-containing formulas (ACF) accelerator-free formulas(AFF) potential-dependent adsorption(PDA) convection-dependent adsorption (CDA)
  • 相关文献

参考文献21

  • 1Wei-Ping Dow,at al.Through hole filling by copper electroplating for SiP.Circuitree.2007i
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  • 8W-P.Dow,at al.Electrochem.Soc,152,C67(2005)
  • 9W-P,Dow,at al.Eectrochem,Soc,152,C77(2005)
  • 10W-P.Dow,at al.Electrochem.Soc,152,C425(2005)

同被引文献5

引证文献2

二级引证文献26

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