用PIXE法分析较厚样品时元素含量的计算

Calculation of Element Content in Analyzing Thicker Samples with PIXE Method

采用质子激发X射线荧光法(PIXE)分析生物,医学及环境等样品时,都要涉及到厚靶的分析。通常,靶都制得很薄,即所谓的薄靶(对2.0MeV的质子束,靶厚小于1mg/cm^2),这可使对样品中各元素含量的计算简单,但其计数效率太低。为了提高效率而又节省用机时间,希望将靶制得稍厚一些,即所谓厚靶(靶厚大于1mg/cm^2),这时就必须考虑质子束通过靶层时能量损失所引起的特征X射线产生截面的变化,以及靶不同深度处产生的特征X射线穿出靶时因吸收而致的强度减弱。本文主要介绍从理论上对未考虑上述影响的薄靶计算公式的修正问题,并通过对标准桃叶的测量来验证这一计算方法的可靠性。