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SoC的发展使测试与测量设备进入芯片
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摘要
复杂IC不仅吸引了更多系统，而且还吞食着设计者用于建立、评估与校准芯片的测试设备。
作者
Ron Wilson
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2008年第5期64-64,66,68,70,71,共5页
EDN CHINA
关键词
测试设备
测量设备
芯片
SOC
设计者
分类号
TM93 [电气工程—电力电子与电力传动]
TB9 [机械工程—测试计量技术及仪器]
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电子设计技术 EDN CHINA
2008年 第5期
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