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铜线替代金线在晶体管封装中的压焊工艺研究

Pressure Welding Technology Research of Cu Wire Instead of Au Wire in the Transistor Seal
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摘要 通过比较铜线与金线的性能,论述了铜线压焊的特点、设备的改造、铜线产品质量检验与常见不良产品等,在晶体管产量较大时,使用铜线压焊能有效地降低生产成本,因而在通用民品中有着非常广阔的应用前景。 Contrasting Cu wire with Au wire, it is discussed the characteristic of Cu wire pressure welding, the transformation of the equipment, checking quality of Cu wire product, common bad product, etc. The application prospect is very wide in the consumer field because cost of production can effectively be reduced with Cu wire pressure welding when the output of transistor is very large.
作者 姚剑锋
出处 《新技术新工艺》 2008年第6期86-87,共2页 New Technology & New Process
关键词 铜线 压焊 质量 成本 Cu wire pressure welding quality cost
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参考文献1

  • 1Katsuya Okumura 丁奎章.Kirkendall空洞引起的铝丝-金层之间键合强度的退化.微纳电子技术,1982,(4):78-85.

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