数字集成电路的微机控测系统

本文论述了用MCS-51系列单片微机控制的数字集成电路,ADC器件、DAC器件、集成运放的测试原理。介绍了硬件结构整体设计和软件流程设计,研制成功的样机与其它同功能的测试系统相比,具有体积小、重量轻、扩展容易、测试范围宽、成本很低、操作方便和可靠性高等优点。是一种性能/价格比高的便携式测试仪。