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陶瓷材料透射电镜试样制备
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1
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摘要
透射电镜(TEM)具有高的分辨率,能够在晶格尺度量级上直接观察材料的内部结构,能方便地研究材料内部的相组成和分布以及晶体中的位错、层错、晶界等,能同时进行材料晶体结构的电子衍射分析,它已成为研究材料微观组织结构最有力的工具。
作者
吴音
周和平
机构地区
清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室
清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室 北京
出处
《实验技术与管理》
CAS
1997年第2期50-52,共3页
Experimental Technology and Management
关键词
陶瓷材料
TEM
试样制备
分类号
TB321.02 [一般工业技术—材料科学与工程]
TQ174.12 [化学工程—陶瓷工业]
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